芯片測試高低溫濕熱試驗箱

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

芯片測試高低溫濕熱試驗箱

1. 優(yōu)質(zhì)的箱體材料：外殼一般采用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑處理，具有良好的防銹、防腐性能；內(nèi)膽多選用不銹鋼板，光滑平整，易于清潔，且能適應(yīng)溫濕度變化而不變形。

2. 合理的風(fēng)道布局：風(fēng)道設(shè)計經(jīng)過精心優(yōu)化，使氣流在箱內(nèi)均勻循環(huán)，保證溫濕度均勻性。出風(fēng)口和回風(fēng)口的位置及尺寸都經(jīng)過精確計算，以實現(xiàn)空氣流通效果。

3. 觀察窗與照明系統(tǒng)：設(shè)有大尺寸觀察窗，便于操作人員在不影響試驗的情況下隨時觀察箱內(nèi)樣品的測試情況。同時配備內(nèi)部照明系統(tǒng)，即使在黑暗環(huán)境下也能清晰查看。

4. 密封性能良好：采用優(yōu)質(zhì)的密封材料和密封結(jié)構(gòu)，確保箱內(nèi)溫濕度環(huán)境不受外界環(huán)境影響，有效防止溫濕度泄漏，保證試驗的準(zhǔn)確性。

控制系統(tǒng)：

1、采用全進(jìn)口彩色觸摸屏溫濕度控制器，P.I.D控制。

2、濕度為直觀顯示控制，摒棄原有溫濕度相對照的缺陷。

3、濕度控制均采用P.I.D ＋S.S.R，系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制。

4、精度：0.1、解析度：±0.1℃，感溫傳感器：PT100鉑電阻測試器。

5、循環(huán)系統(tǒng)采用耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī)，多葉式離心風(fēng)輪。